理化检验-化学分册

作者：杨静, 曹阳, 蕫娇, 王跃明

关键词：X射线荧光光谱法, 钨, 合金, 基本参数法

采用X射线荧光光谱法测定了多种含钨合金钢以及含钨较高的镍基和钴基合金中钨的含量。方法中选择钨的Lβ1线为分析线，并选择2θ角在39.50°处作为背景位置。在合金中钽的Lβ2线对钨分析线有重叠干扰，选两套标准样品用基本参数法（FP）测出了干扰系数k，将k值列入仪器的FP工作软件中来消除钽对钨测定的重叠干扰。用所提出的方法分析了钨质量分数在0.054%~11.71%内的5个标准样品，测定值与认定值相符，测定值的相对标准偏差（n=7）在0.55%~9.5%之间。

来源：2019年第6期

《理化检验-化学分册》期刊编辑部

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