理化检验-化学分册

作者：张增坤, 刘爱坤, 高英敏, 刘鹏

关键词：火花放电原子发射光谱法, 校准, 校正, 最小二乘法, 线性内插法

火花放电原子发射光谱法（SD-AES）中的数据处理包括校准曲线建立、仪器标准化、类型标准化，其中校准曲线建立和类型标准化属于仪器测量数据的校准过程，仪器标准化则是对仪器漂移（包括人员操作及环境因素影响）的校正过程，日常分析中数据漂移的一致性修正也是校正过程。在SD-AES分析体系中，校准与校正主要采用线性内插法和最小二乘法，前者适用于单点与两点修正，后者适用于三点及以上修正。两点夹逼法有效解决了缺少合适类型标准化样品的校准难题；单点类型标准化在低含量区间采用系数校准，在线性区间采用加法校准；折线法实现了宽范围类型标准化的处理。基于折线法与最小二乘法相结合的分段校准技术，改善了宽范围校准曲线的精度，增强了同基体材料校准曲线的普适性。在仪器漂移校正方面，基于加权最小二乘法的多点标准化比传统两点标准化具有更强的数据还原能力，能明显提高SD-AES分析的精密度。

来源：2026年第1期

《理化检验-化学分册》期刊编辑部

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