理化检验-化学分册

作者：于永波, 朱莉, 缪乐德

关键词：电感耦合等离子体原子发射光谱法, 钢铁, 高含量硅, 基质匹配法

为解决现行国家标准GB/T 223.60—2024、GB/T 223.5—2008、GB/T 223.90—2021中钢铁样品中高含量硅（质量分数6.00%～10.00%）测定方法缺失的问题，提出了题示研究。取0.100 0 g钢铁样品置于聚四氟乙烯烧杯中，依次加入30 mL 50%（体积分数）盐酸溶液、10 mL 50%（体积分数）硝酸溶液和1 mL氢氟酸，盖上聚四氟乙烯盖，于25 ℃静置至样品完全溶解（不小于4 h），将样品溶液转移至100 mL塑料容量瓶中，用水定容，摇匀。在射频功率1.20 kW，分析谱线288.158 nm的条件下采用电感耦合等离子体原子发射光谱法测定硅的含量，基质匹配法定量。结果显示，硅的质量分数在10.00%以内与对应的光谱强度呈线性关系，检出限（3s）为0.006%。方法用于分析高硅钢铁样品和中锰球铁标准物质，测定值的相对标准偏差（n=6）均小于0.50%，对本方法和GB/T 223.60—2024中的重量法的测定结果进行F检验和t检验分析，均无显著性差异。

来源：2026年第4期

《理化检验-化学分册》期刊编辑部

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